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報道発表資料  2016年2月26日  教育庁

平成28年度東京都立高等学校入学者選抜(学力検査に基づく選抜)において配布した検査問題の不備について

 2月24日に実施した東京都立高等学校入学者選抜(学力検査に基づく選抜)における学力検査において、事故や病気等による学力検査等実施上の特別措置を申請した一部の受検者へ配布した検査問題に不備がありましたので、下記のとおりお知らせします。

 事故や病気等により、通常の学力検査の方法で受検することが困難と認められる受検者については、検査方法等の特別の措置を講ずることとしている。
 東京都立高等学校入学者選抜(学力検査に基づく選抜)を実施した際、特別の措置を申請した者のうち3名の受検者に、都教育委員会が作成・配布した検査問題において不備があることが判明した。

1 問題の一部に不備がある検査問題を配布

(1) 概要

 2名の受検者に配布した検査問題の一部において、記号で解答すべき問題の設問(別添1(PDF形式:128KB))とするところ、記述で解答する設問(別添2(PDF形式:110KB))となっていた。

(2) 該当教科及び箇所

 社会科 6 〔問3〕

(3) 採点上の措置

 検査時間内に該当箇所のページの差し替えを行ったが、当該受検者の解答に影響を与えたため、当該受検者の不利にならないよう該当箇所の解答を正答(5点)として扱う。

2 申請した特別措置の内容と異なる検査問題を配布

(1) 概要

 1名の受検者に対して、記述で解答する設問を含む通常の検査問題を拡大して配布すべきところ、全て記号で解答する検査問題となっていた。

(2) 該当教科

 理科

(3) 採点上の措置

 解答の方法は異なるが、検査問題の内容に違いはないため、採点上の措置は行わない。

問い合わせ先
教育庁都立学校教育部高等学校教育課
 電話 03-5320-6745

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